PCT高壓加速試驗箱是用于測試半導體封裝之濕氣能力，待測现有產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，多層線路板,光伏組件,EVA,IC,LED,LCD,磁性材料,高分子材料等现有產品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。

浙江PCT高壓加速老化試驗箱供應商现有產品是用于測試半導體封裝之濕氣能力，待測现有產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，多層線路板,光伏組件,EVA,IC,LED,LCD,磁性材料,高分子材料等现有產品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。

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PCT高壓加速老化/加速壽命試驗箱是用于測試半導體封裝之濕氣能力，待測现有產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，多層線路板,光伏組件,EVA,IC,LED,LCD,磁性材料,高分子材料等现有產品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。